穩(wěn)定性的重要性

紫外可見分光光度計(jì)的穩(wěn)定性應(yīng)包括基線漂移和光度重復(fù)性兩個(gè)方面。我們使用紫外可見分光光度計(jì)時(shí)，有一個(gè)很重要的原則或宗旨，這就是儀器要穩(wěn)定可靠。如果一臺(tái)儀器的穩(wěn)定性差，就不可能得到滿意的分析測(cè)試結(jié)果。儀器的穩(wěn)定性是制造、挑選或使用紫外可見分光光度計(jì)的關(guān)鍵問題之一。

有些使用者把基線漂移作為穩(wěn)定性，實(shí)際上基線漂移只是穩(wěn)定性的內(nèi)容之一。如果一臺(tái)紫外可見分光光度計(jì)的基線漂移符合使用要求，但其光度重復(fù)性很差，它仍然不能滿足使用者的使用要求；反之，如果一臺(tái)紫外可見分光光度計(jì)的光度重復(fù)性符合使用要求，但其基線漂移大，它也不能滿足使用要求。只有基線漂移很小、重復(fù)性也很好的儀器才能滿足使用要求，才是好儀器。

光譜帶寬的重要性

影響紫外可見分光光度計(jì)定量分析誤差的因素很多，光譜帶寬就是主要因素之一。

首先，我們來看A.J.Owen關(guān)于光譜帶寬對(duì)分析誤差的影響的研究，他指出光譜帶寬（SBW） /自然帶寬（NBW）≤O.1時(shí)，該儀器可滿足99%的試樣的分析，并且分析準(zhǔn)確度可達(dá)99. 5%。從他給出的例子可知，當(dāng)用1nm光譜帶寬測(cè)試時(shí)，可得出一個(gè)很漂亮的光譜圖；當(dāng)同一操作者使用同一儀器和同一樣品，分別改用5nm、lOnm、20nm、50nm光譜帶寬測(cè)試時(shí)，所得的譜圖明顯比用1nm光譜帶寬測(cè)試的峰高低很多。在20nm光譜帶寬測(cè)試時(shí)，兩個(gè)峰變成了一個(gè)馬鞍形的峰。特別在50nm光譜帶寬測(cè)試時(shí)，兩個(gè)峰就變成了一個(gè)饅頭峰。由此可見，光譜帶寬對(duì)分析測(cè)試誤差的影響很大。

廣大分析工作者應(yīng)重視對(duì)光譜帶寬的選擇，以便提高分析測(cè)試結(jié)果的可靠性，提高分析測(cè)試技術(shù)水平。

基線平直度的重要性

紫外可見分光光度計(jì)的基線平直度是指每個(gè)波長(zhǎng)上的光度噪聲，它是用戶最關(guān)心的技術(shù)指標(biāo)之一，也儀器各個(gè)波長(zhǎng)上主要分析誤差的來源之一，它決定儀器在各個(gè)波長(zhǎng)下的分析檢測(cè)濃度的下限（或決定各個(gè)波長(zhǎng)下儀器的靈敏度）。

目前，許多科技工作者都不正確給出基線平直度這個(gè)關(guān)鍵性能技術(shù)指標(biāo)。不管是高檔紫外可見分光光度汁，還是一般的紫外可見分光光度計(jì)，給的基線平直度都是±0.001A。其實(shí)，些達(dá)不到±0.001A，而有些優(yōu)于±0.001A。所以，紫外可見分光光度計(jì)的設(shè)計(jì)者、生產(chǎn)者和使用者都要高度重視基線平直度這個(gè)技術(shù)指標(biāo)。

線性動(dòng)態(tài)范圍的重要性

線性動(dòng)態(tài)范圍是影響分析測(cè)試誤差的技術(shù)指標(biāo)。如果儀器的線性動(dòng)態(tài)范圍很寬，則無論是對(duì)很稀的樣品還是對(duì)很濃的樣品進(jìn)行分析時(shí)，其分析測(cè)試的結(jié)果都在所要求的誤差范圍內(nèi)。所以我們應(yīng)該選擇線性動(dòng)態(tài)范圍大的紫外可見分光光度計(jì)。

紫外可見分光光度計(jì)的線性動(dòng)態(tài)范圍取決于儀器的雜散光和噪聲，它們是分測(cè)試誤差的主要來源。雜散光限制被分析測(cè)試樣品濃度的上限。噪聲限制被分析樣品濃度的下限。

紫外可見分光光度計(jì)的線性動(dòng)態(tài)范圍非常重要，它限制儀器的用范圍（即限制儀器的適用性）。儀器使用者應(yīng)對(duì)線性動(dòng)態(tài)范圍引起高度重視，這樣才能提高我國(guó)紫外可見分光光度計(jì)儀器的水平和分析測(cè)試技術(shù)水平。